SICK lancia sul mercato il sensore fotoelettrico miniaturizzato W4F di ultima generazione, dotato di una nuova piattaforma ASIC che apporta numerosi vantaggi prestazionali a questa famiglia di prodotti. Il sensore rileva in modo estremamente affidabile persino oggetti molto scuri, altamente riflettenti, molto sottili o trasparenti. Inoltre, W4F può fornire informazioni sulla distanza, ad esempio, sull’altezza degli oggetti, consentendo così di riconoscere errori di posizionamento. I primi clienti confermano come il sensore fotoelettrico sul mercato sia il più immune ad ogni tipo di luce ambientale. Il concetto di comando Blue-Pilot e le innovative possibilità di monitoraggio rendono l’impostazione e il monitoraggio del sensore estremamente semplice. Tutto questo consente di risparmiare tempo durante la messa in servizio. Inoltre, IO-Link e le nuove funzioni intelligenti per il monitoraggio e la diagnostica del sensore creano il collegamento con il mondo delle macchine e applicazioni digitalizzate. In sintesi, W4F consente prestazioni massime in uno spazio minimo, funzionalità di commutazione affidabili e prestazioni garantite.
Caratteristiche principali:
- W4F è il nuovo membro del nostro portfolio PRIME (4th generation W4)
- BluePilot: pulsante e potenziometro per una regolazione efficace e in combinazione l‘indicazione a LED per agevolare l’allineamento, la regoalzione a 2 punti e valutare la sensibilità
- Nuove versioni speciali per risolvere applicazioni oltre gli standard: doppia lama, soppressore di primo piano, V-Optics, multi-Soglia
- Optical Experts: la migliore immunità ai disturbi ambientali (sole e lampade LED) sul mercato
- Nuove funzionalità smart: misura della distanza, valore della quantità di luce
Vantaggi di W4F:
- Fori sul lato piatto consentono una facile installazione in parallelo
- Ampia gamma di soluzioni come nessuna altra famiglia di sensori sul mercato
- Affidabilità estrema ad un prezzo competitivo
- Primo sensore miniaturizzato con il BluePilot
- Nessun problema con le luci ambientali
- Rilevamento di oggetti sottili, riflettenti, non uniformi.